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島津二手x熒光分光光度計EDX-700HS

簡要描述:

島津二手x熒光分光光度計EDX-700HS,北京京科瑞達現貨供應。EDX-720進行元素分析時可以自動判斷元素和更換相應的濾光片,無須手動更換

島津二手x熒光分光光度計EDX-700HS


 

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儀器實拍:

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一、島津二手x熒光分光光度計EDX-700HS主機部分:

X射線發生器單元

X射線管

類型 Rh靶

冷卻方法 空冷(附風扇)

2X射線電源單元

電壓 5-50kV,每步1Kv(測定重金屬(Cd,Pb,Hg,Br,Cr等)時,可以用50kV。但測定輕元素時,15kV是***有效的。另在工作曲線法中,隨時可設定***佳電壓。) 電流 1-1000μA,每步1μA

穩定度 ±0.01%(外電壓波動±10%)

保護電路 過電壓, 過電流, 過功率,

X射線連鎖保護

(特點說明:電壓、電流可以由計算機控制自動調節,滿足不同元素的高精度分析,同時滿足RoHS,ELV指令擴展的要求)

3、一次X射線濾波片 5種自動交換

(特點說明:不同元素應該采用不同的濾光片進行分析,這樣才能有效降低背景,得到高準確度的測量數據。EDX-720進行元素分析時可以自動判斷元素和更換相應的濾光片,無須手動更換)

二、島津EDX-700hs射線熒光光譜儀檢測器:

1、檢測器

類型 Si(Li)檢測器

液氮 只有在分析時添加

液氮消耗 少于1升/天

檢測面積 10mm2

分析元素 Na-U

分辨率 :小于150電子伏特

(特點說明:采用液氮制冷方式的檢測器具有高分辨率,可以避免元素譜線之間的干擾,從而保證高準確度的分析。在性能、實績、穩定性上,Si(Li)半導體是對性的實績(島津檢測器是自己生產,在萬一發生故障也迅速對應)。 掘場按振動檢測器的性能下降。 精工較差的Si-PIN半導體分辨率為220eV、在分析樹脂中的Cd、Pb時,容易受到Br和Sb等共存元素的干擾、并有時不能檢出,還有因為是低強度,在測試金屬中有害元素的感度也差。)

2、計數單元

放大器

擬合時間 10μ秒

增益變化 高/低

多道分析器(MCA)

變頻型 順序比較ADC

道數 2048道

***大計數率 232-1/道

三、島津EDX-700 hs射線熒光光譜儀樣品室與測定室單元

1、樣品室

二手島津X射線熒光光譜分析儀EDX-700HS,二手熒光光譜分析儀蓋子 自動開啟/關閉(帶安全系統)

每次測定時蓋子自動上升與下降。

***大樣品尺寸 300mm 直徑 x 150mm高

二手島津X射線熒光光譜分析儀EDX-700HS,二手熒光光譜分析儀(特點說明:樣品室自動開啟,樣品蓋子的結構設計有效避免X光的泄露,滿足日本及中國X射線的泄露控制標準。超大型的樣品室可以容納大型的部件直接放入測試,無須切割)

2、測定室

X射線照射面積 下照射

光欄直徑 1、3、5、10mm可選

(特點說明:不同的分析面積采用不同尺寸的光欄,可以保證各種大小樣品的高精度測試。)

測定室開孔 13mm

3、測定氣氛:大氣

4、CCD觀察定位系統

配備CCD數碼觀察系統,可以準確定位分析區域。

 

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