返回首頁|加入收藏|聯系我們

產品分類
您現在的位置:首頁 > 產品展示 > 光譜儀 > X熒光光譜儀 > 島津EDX-720 二手X射線熒光光譜儀

島津EDX-720 二手X射線熒光光譜儀

簡要描述:

島津EDX-720 二手X射線熒光光譜儀可無損地進行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析,廣泛應用于各個領域。

島津EDX-720X射線熒光分析裝置是使用X射線照射樣品,對產生的熒光X射線的能量進行檢測,測定構成樣品的元素種類及含量的裝置??蔁o損地進行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析,廣泛應用于各個領域。特別是近,以歐盟的報廢電子電氣設備指令(WEEE)、電子電氣設備所含特定有害物質限制使用指令 (RoHS)、報廢汽車指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等法規為代表的綠色采購及環境分析之 中,要求更為微量、更為迅速的分析。

 

為滿足這種需求,的EDX-720系列達到了更高的靈敏度與精度。

 <strong>島津EDX-720 二手X射線熒光光譜儀</strong>

島津EDX-720 二手X射線熒光光譜儀基本參數

 

1.分析元素:11Na-92U(EDX-720),可以準確檢測ROHS指令以外其它元素。

2.樣品型狀:大 300mmФ×150mmH ,可以滿足樣品的不規則性。

3.X射線濾鏡:5種自動交換,可以消除背景元素干擾,使儀器分析精度高于其它儀器。

4.能量分辨率:Si/Li檢測器,145eV.5.檢測下限:Cd:1.7ppm;Pb:2ppm;Cr:2ppm;Br:2ppm;Hg:2ppm.滿足ROHS  指令和索尼STM-0083標準。6.軟件: 定性分析-測定/解析軟件。 定量分析-工作曲線法,共存元素校正、FP法 、薄膜FP法、BG-FP法

 

固體、粉末、液體樣品都不需要前處理的非破壞性的簡便分析。適用快速評價RoHS、 ELV法規限制的有害元素 的新裝置!靈敏度比以往機型提高2倍,使用更方便,提高了篩選分析的效率!

 <strong>島津EDX-720 二手X射線熒光光譜儀</strong>

島津EDX-720 二手X射線熒光光譜儀主要特點:

 

1、配置新型濾光片,提高Pb、Cd等的靈敏度提高2倍。

2、配置高計數率電路,增加檢測器的計數量。

3、增加時間縮短功能,由熒光X射線強度算出測定精度,自動判斷所需少測定時間。

4、增加自動工作曲線選擇功能,依據識別樣品種類的不同而選擇適宜的工作曲線。

留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7